LED需要做的可靠性試驗
  LED產(chǎn)品(LED日光燈/LED照明燈具/LED節(jié)能燈/LED光源/LED模組/LED通訊/LED燈泡/LED光電/LED路燈/LED封裝/LED電源)可靠性設(shè)計技術(shù)，顧名思義，即是檢驗產(chǎn)品在用戶使用時是否可靠的一門測試技術(shù)。這項測試技術(shù)運用成功與否，對產(chǎn)品的質(zhì)量有舉足輕重的效果，它自始至終地貫徹在產(chǎn)品的設(shè)計和生產(chǎn)過程中。當一個室內(nèi)LED照明產(chǎn)品被設(shè)計出來時，它的使用壽命有多長?LED照明產(chǎn)品能在怎樣的惡劣的環(huán)境下(如高溫、低溫、高低溫循環(huán)、高低溫老化、高溫高濕、冷熱沖擊和振動等)運行?LED照明廠家首先要通過可靠性實驗做到心中有數(shù)。然后，把使用要點寫進說明書，提醒用戶一些注意事項，避免用戶因操作不當而損壞產(chǎn)品。下面就簡單介紹一些LED照明燈具可靠性試驗的方法和項目。
  LED照明產(chǎn)品的可靠性測試項目主要有：A：LED燈具高溫老化試驗 B：高溫高壓沖擊啟動試驗 C：LED低溫試驗 D：低溫高壓沖擊啟動試驗 E：LED振動試驗 F：壽命試驗 G：LED照明老化試驗 H：小試 I：中試。下面就介紹這些項目的運用。(以額定電壓220V為例)其中部分設(shè)備需自制。
  A：高溫試驗。 主要測試設(shè)備：LED恒溫老化箱、溫度計、調(diào)壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目：高溫低壓啟動、高溫安全運行。 測試數(shù)量：10個。 測試方法：把待測LED照明燈具放進恒溫老化箱，連接電路，把調(diào)壓器的輸出電壓調(diào)至180V(調(diào)壓器僅給待測LED燈具供電)，打開LED恒溫老化箱電源，把溫度設(shè)定在60℃，待箱內(nèi)的溫度升至60℃時打開燈具的電源，觀察燈具是否正常工作，然后把調(diào)壓器升至250V，讓其工作24小時，觀察實驗結(jié)果。若發(fā)生燈具損壞材料受熱變形等異?，F(xiàn)象時則該項實驗為不合格。
  B：高溫高壓沖擊啟動試驗。 主要測試設(shè)備：恒溫箱、溫度計、調(diào)壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目：高溫啟動性能和可靠性 測試數(shù)量：10個。 測試方法：接上項試驗。在高溫狀況下，把調(diào)壓器電壓調(diào)至250V，開關(guān)三次，每次間隔不少于8秒鐘(間隔8秒鐘是要待燈具內(nèi)的電容全部放電，減少相互干擾)，在此過程中，燈具不應(yīng)損壞，否則將視為不合格。 C：低溫試驗。 主要測試設(shè)備：低溫箱、溫度計、調(diào)壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目：低溫低壓啟動。 測試數(shù)量：10個。 Led低溫測試方法：把待測燈具放進低溫箱，連接電路，把調(diào)壓器的輸出電壓調(diào)至180V(調(diào)壓器僅給待測燈具供電)，打開led低溫箱電源，把溫度設(shè)定在-15℃，待箱內(nèi)的溫度降至-15℃時再保持2小時，讓燈具充分冷卻后，打開燈具的電源，觀察實驗結(jié)果。若發(fā)生燈具損壞、不能啟動等異常現(xiàn)象時則該項實驗為不合格。
  D：低溫高壓沖擊啟動試驗。 主要測試設(shè)備：led低溫試驗箱、溫度計、調(diào)壓器、電壓表和時鐘。 主要測試項目：低溫高壓沖擊可靠性 測試數(shù)量：10個。 測試方法：接上項試驗。在低溫狀況下，把調(diào)壓器電壓調(diào)至250V，開關(guān)三次，每次間隔不少于8秒鐘(間隔8秒鐘是要待燈具內(nèi)的電容全部放電，減少相互干擾)，在此過程中，燈具不應(yīng)損壞，否則將視為不合格。
  E：振動試驗。 主要測試設(shè)備：led照明燈具振動試驗臺1套 測試數(shù)量：10個包裝。 測試方法：把led燈具及l(fā)ed照明測試樣品包裝好，放在振動試驗臺上，把測試頻率調(diào)在0.5—5赫茲，周期為1分鐘，振幅為1。5厘米，在上下、左右、前后三個方向上分別試驗30分鐘，然后取出樣品測試，不應(yīng)有損壞的現(xiàn)象出現(xiàn)，否則將視為不合格。
  F：壽命試驗。 主要測試設(shè)備：供電電源 主要測試項目：正常工作壽命 測試數(shù)量：10個。 測試方法1：把燈具接上額定電壓220V，讓其正常工作，記下開始工作時間，待每個燈具損壞時，記下終止的時間，當所有的燈具損壞時，求出燈具的平均工作時間，這即為產(chǎn)品的壽命。 測試方法2：根據(jù)實際燈具產(chǎn)品，采取的加速壽命老化的方法(例如加高溫、高壓和頻繁開關(guān)等)，根據(jù)實際情況制造的老化設(shè)備。
  G：led老化試驗。Led照明燈具及l(fā)ed電源等新產(chǎn)品在投產(chǎn)前，必須在數(shù)量上分別通過小批試產(chǎn)和中量試產(chǎn)的階段，通過這些試驗可找出非設(shè)計問題如原材料和工藝問題。